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SuperViewW光學粗糙度輪廓測量一體機具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器3D輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

chotest國產光學輪廓儀基于白光干涉技術，分辨率達0.1nm，以3D非接觸方式測量分析劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量等，覆蓋半導體、3C電子、光學加工、汽車零部件、MEMS器件等領域，兼容多種材質（透明、高反光、黑色等）。

SuperViewW高精度光學3D表面輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。覆蓋半導體、3C電子、光學加工、汽車零部件、MEMS器件等領域，兼容多種材質（透明、高反光、黑色等）。

SuperViewW光學3D表面形貌特征輪廓儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SuperViewW中圖儀器光學三維輪廓儀系統具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。